GDJD-600型高、低温介电性能测量系统
GDJD-600型高低温介电性能测量系统（四通道测试，同时测试4个样品）
关键词：高低温介电测量仪，高、低温介电测量系统，
产品介绍：
GDJD-600型高温介电性能测量系统主要应用于高低温下材料的介电性能测
试与分析，包括介电常数、介电损耗、电容等参数，同时测试出测试材料的其
他阻抗参数，广泛应用于陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究 。
一、产品优势:
1.实现室温-140?C-800?C的低高温介电转换测量
2.四通道测试,可以同时测试1-4个样品，方便快捷
3.数据分析软件:提供多种扫描曲线,可以在多窗口之间切换数据
二、《符合ASTMD150和 D2149-97国际标准>>
<<符合GB/T1409-2006介电常数和介电损耗的推荐方法;》
三、产品特点
1.可以在低高温、宽频、真空条件下测量固体、薄膜样品的介电性能；
2.可以分样品的频率谱、温度谱、偏压谱、阻抗谱、介电谱、时间谱等测量功能;
3.可以测量样品的介电常数、介电损耗，电容C，损耗D，电感L，品质因数Q，阻抗Z等物理量;以实现介电常数和介电损耗随多个温度、多个频率变化的曲线，时间和电压变化的曲线；
4、可提供块体，薄膜，单样品，四样品夹具，满足不同测试要求。
主要技术指标：
| 测量温度： -160?C-800?C
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升温斜率：2?C /min
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频率范围：20-30MHZ
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精度：0.05%
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测量精度： ?0.1?C
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控温精度：?1?C（PID精准控温）
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高温样品杆：耐高温、1000?C不氧化，电极阻抗低、绝缘好
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测试方法：两线法或四线法
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测试通道数：1-4通道
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一次可测样品数：1-4个样品
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样品尺寸：直径小于2-10mm，厚度小于1-10mm，样品放置位置灵活，可快捷安装和拆卸
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测量精度：0.05%
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AC电平： 0V 到 1V rms
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直流偏压：0到?40V/100mA
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数据存储：EXCEL表格等多种格式
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加热方式：电阻丝加热
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真空度范围：100 Pa-1大气压
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电极材料：铂金
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数据传输：4个USB接口
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仪器通讯：USB或GPIB
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