一、应用领域
X荧光光谱仪
UTX620是一款经济、实用、操作简便的X射线荧光光谱仪，适用于：
1、尺寸较大的五金、接插件、电气连接器电镀，塑料、ABS、镁铝合金电镀；
2、尺寸较大、含量普通的合金材料分析；
3、镀液分析。
镀层厚度检测
五金、接插件、电气连接器电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP、SnPb合金、SnCu合金、ZnNi合金、等；
塑料、ABS、镁铝合金电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP等 合金材料分析
不锈���中的Fe、Cr、Ni、Mo等成分 黄铜中的Cu、Zn、Pb等成分 磷铜中的Cu、Zn、Sn、Pb等成分 焊锡中的Sn、Pb等成分
镀液分析
电镀液中Au、Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn的主盐的浓度
二、产品特点
1、从K到U的快速元素分析、金属镀层厚度检测
2、检测灵敏度0.01%到100%；镀层0.03um到35um
3、测量时间短，每个测量只需10-60秒
4、15-20倍彩色CCD系统用于样品图像观察
5、有多种形状和多种规格的准直器可供选用
6、大窗口正比计数器，提高测量稳定性
7、机械结构简单，可靠
8、FP基本算法软件
9、灵活的应用分析软件
三、硬件
1、超大空间样品仓
UTX620采用由上而下的测量方法，应用这种测量方法，可以设计超大空间样品仓，亦可以测量腔体、 凸面、凹面等不规则的产品。解决了一些仪器不能测量超大线路板、大框架、轮毂、长管、长套等。
2、高精度样品台 高精度样品台调节精细、平稳，可以准确地定位较小和不规则物品，如螺丝、螺丝帽、螺栓、铜球、 锡球、电子插件等。
3、高精密彩色CCD放大倍数15-20倍的高清晰彩色CCD，图像清晰，测量点一目了然。雷射激光对焦系统，可以准确定位测量高度，消除了人为对焦而引起的误差。
人性化的操作界面 功能强大而操作简便。多种语言可供选择，国际化，多元化。 内置光谱数据库 可以自动从数据库中提取预定光谱而不需要测量；
所有应用工作程序可直接从数据库中复制，这种做法可以使用户和服务工程师快速新增工作程序； 用户无需标样也可以调较工作程序，只需要测试相关的底材和纯元素即可完成。
定性分析
可以在光谱上自动标出对象所含元素，自动读取元素的特征能量线，对于未知的样品有良好的判别。 特大的数字显示测量结果，数据输出结构形象，用户易懂。多种个性化的设置 用户可以选择测量时间、显示单位、显示精度等。完善的数据统计和SPC功能 可以数据一组数据或多组数据的平均值、标准偏差、相对标准偏差、相对偏差、最大值、最小值、合 格率；输入管控范围可以自动生成X-Bar/R图，CP，CPK，Histogram等。